търсене на книга
книги
Направете дарение
Впиши се
Впиши се
оторизираните потребители имат достъп до:
лични препоръки
Телеграм бот
хронология на изтеглянията
изпрати до Email или Kindle
управление на колекцията
запазване в любими
Лично
Заявки за книги
Изучаване
Z-Recommend
Списъци с книги
Най-популярни
Категории
Участие
Направете дарение
Качвания
Litera Library
Дарете хартиени книги
Добавяне на хартиени книги
Search paper books
Моят LITERA Point
Търсене на термини
Main
Търсене на термини
search
1
EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany: Volume 1: Instrumentation and Methods
Springer
Martina Luysberg
,
Karsten Tillmann
,
Thomas Weirich (eds.)
electron
figure
microscopy
sample
methods
diffraction
materials
imaging
analysis
contrast
specimen
berlin
instrumentation
springer
surface
heidelberg
tillmann
weirich
emc
verlag
luysberg
keywords
microscope
thickness
atomic
eels
shown
electrons
shows
method
transmission
intensity
aberration
tomography
obtained
detector
scanning
experimental
ray
samples
scattering
signal
fib
axis
layer
structures
phys
reconstruction
technique
angle
Година:
2008
Език:
english
Файл:
PDF, 58.22 MB
Вашите тагове:
0
/
0
english, 2008
1
Следвайте
тази връзка
или потърсете бот „@BotFather“ в Telegram
2
Изпратете команда /newbot
3
Въведете име за вашия бот
4
Въведете потребителско име за бота
5
Копирайте последното съобщение от BotFather и го поставете тук
×
×